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PHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪
PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术,可检测表面分子成分和分布,元素及其同位素。所有元素和
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PHI TRIFT V nano SIMS飞行时间二次离子质谱仪
飞行时间质谱仪™PHI TRIFT V(三次对焦飞行时间)飞行时间质谱是一种高传输、并行检测仪器,其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到zei佳的收集状态,并可同时用于有机和无机
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SurfaceSeer系列飞行时间二次离子质谱仪
飞行时间二次离子质谱仪,用于研究样品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研发经验生产出独特的仪器,第一次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在zei短的
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TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用,包括聚合物,药物,超导体,半导体,合金,光学和功能涂层以及电介质,检测限低于1ppm
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时间飞行质谱仪
分辨率之间没有冲突。 AccuTOF™ GCv 4G结合每秒4G的数据采集速率与8000 FWHM的高分辨率,还为低浓度和高浓度下分析提供最高线性动态范围。极具特色的FD/FI 离子源,已经成为
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impact II四极杆飞行时间质谱仪
Outstanding Hardware Performance Enhanced dynamic range 50Gbit/sec data sampling
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TOF.SIMS 5 飞行时间二次离子质谱
给出分子离子峰和官能团碎片峰;可以方便 的分析出化合物和有机大分子的整体结构。 9.采用双束离子源可以对样品进行快速深度剖析。 10.采用高效的电子中和枪,可以精确的分析绝缘材料。 飞行时间二次
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micrOTOF focus II四极杆-飞行时间质谱仪
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maXis II超高分辨四极杆-飞行时间质谱仪
常规分析,让您第一次分析,即可获得专业的结果 一次完成的即插即用分析模式:媲美三重四级杆的灵敏度,通过一次液质联用分析,确保在zei快的时间内同时得到定性,定量结果。 maXis II
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BenchTOF-Select飞行时间质谱仪
• 离子化模式:EI源,集成Select-eV 技术,提供可变电子伏特,10-70eV• m/z范围:1–1500 u• GC 灵敏度,EI模式 (70 eV):1 pg八氟萘
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